磁粉灵敏度试片

A型灵敏度试片最先由日本无损检测学会提出，以后为多个国家使用，主要用于零部件的射线无损检测设备磁粉探伤，在检查中，对几何形状复杂，不同材质的工作，可以正确地选择磁化规范，并可检查探伤设备，磁粉和磁悬液的性能，在磁粉探伤操作过程中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量A型灵敏度试片是磁粉探伤工作者必备的调试工具。

特 点：
试片用于磁粉显示，图象直观，使用简便。对各类零件所有方向的磁场，尤其检查形状复杂的零件时，表现其独特的优点。

性能规格：
A型标准试片分为A1、A2；A1为退火材料制成，A2为不作热处理的冷轧材料制成。本试片按JB4730-2005标准特别注明A1试片，与日本JISG0565-6标准和美国ASME SE709标准相对应。本试片为A1 （15/50μ）标准试片。相当于A1型试片中2# (30/100μ)标准灵敏度试片，规格为（8-9）D；适用于中灵敏度探伤，其中括号中分子为槽深，分母为试片厚度，单位为（微米），D为工件直径。